Joint Test Action Group
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JTAG steht für "Joint Test Action Group" und bezeichnet normalerweise den IEEE-Standard 1149.1, der ein Verfahren zum Debugging von elektronischer Hardware beschreibt.
Die JTAG entstand durch einen Zusammenschluss von Halbleiterherstellern im Jahre 1985/86. Es wurde ein Standard erarbeitet, welcher in der Norm IEEE 1149.1-1990 festgehalten ist. Das Verfahren ist auch unter dem Namen Boundary Scan Test bekannt.
Der Zweck des Verfahrens ist, integrierte Schaltkreise und ihre Verbindungsleitungen, welche sich bereits in einer Arbeitsumgebung befinden, beispielsweise verlötet auf einer Platine, auf Funktion zu testen. Dazu werden integrierte Schaltkreise in ihrem inneren Aufbau durch JTAG-Komponenten ergänzt.
Im allgemeinen wird von der JTAG-Schnittstelle oder dem JTAG-Port gesprochen. Die JTAG-Schnittstelle besteht aus fünf Steuerleitungen:
- Test Data Input (TDI)
- Test Data Output (TDO)
- Test ClocK (TCK)
- Test Mode Select Input (TMS)
- Test ReSeT (TRST)
Inzwischen wird JTAG vermehrt auch zur Konfiguration von FPGAs und CPLDs sowie zum Programmieren und Debuggen von Mikrocontrollern verwendet.
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